公司介紹
關於科榮
核心價值
大事紀要
營業據點
新聞中心
產品資訊
特性材料/耗材
二氧化矽奈米懸浮
AFM tips
GRAPHENE
Tekna 球形化粉末/奈米粉末
製程設備
原子沉積系統Anric
電子顯微鏡前處理系統 Meiwafosis
電漿增強化學氣相沉積系統TEOS多片機
感應耦合電漿蝕刻系統多片機
電漿增強化學氣相沉積系統(PECVD)
電漿增強化學氣相沉積系統PP1000 PECVD
物理氣相沉積系統PVD
原子層沉積系統FlexAL ALD
電子顯微鏡高解析度Osmium鍍膜機
量測/分析儀器
OEG 光學量測
SURAGUS 非接觸式-片電阻和膜厚測量儀
SITA 潔淨度 / 表面張力 / 泡沫特性分析
VINE 膜厚量測
TEMIC 桌上型電子顯微鏡(固態/液態)
XPS/ESCA X光光電子能譜儀/化學分析電子能譜
Precision 細胞/動物用X-ray櫃式照射儀
Unisoku
IMAGE
SPM 表面形貌分析
STM 表面形貌分析
SEM表面形貌分析
Nano-indenter 材料應力應變分析
廠務氣體偵測器
CM4紙帶式氣體偵測器
Vertex紙帶式氣體偵測器
Vertex-M紙帶式氣體偵測器
MIDAS電化學式氣體偵測器
MIDAS-M電化學式氣體偵測器
Satellite XT 電化學式氣體偵測器
ACM 150 FT-IR 氣體監控系統
Sensepoint XCD防爆型氣體偵測器
RAEGuard 2 PID 揮發性有機氣體偵測器
SPM Flex紙帶式氣體偵測器
MIDAS可攜式氣體偵測器
BW Clip4 多氣體可攜式偵測器
BW Ultra 多氣體可攜式偵測器
BW Solo可攜式偵測器
Riken電化學偵測器
Vertex Edge紙帶式氣體偵測器
紙帶式氣體偵測器
電化學氣體偵測器
FT-IR 集中式氣體監控系統
防爆型氣體偵測器
可攜式氣體偵測器
製成/生產設備
OIPT
CVI
TANKA 奈米與球型化材料製備設備
SURAGUS 非接觸式-片電阻和膜厚測量儀
晶圓劈裂機SELA
半導體
微粒子撒粒系統
微粒子撒粒服務
SELA
X光光電子能譜儀/化學分析電子能譜
HoneyWell
學術領域
極低溫系統 Bluefors
極低溫系統 CIA
掃描穿隧顯微鏡 RHK
掃描穿隧顯微鏡 Unisoku
高溫設備 CVI
X光光電子能譜儀/化學分析電子能譜
量子/低溫電子零件 Qdevil
量子研究/ Quantum research
氣體偵測系統及廠務監控整合
代理產品
HONEYWELL
台灣賽默飛世爾科技股份有限公司
MSP
SURAGUS
TEMIC
SELA
SITA
GRAFENIA
OEG
人力資源
員工福利
招募訊息
聯絡我們
繁中
简中
English
日本語
한국어
ไทย
Tiếng Việt
詢價表單
詢價表單
/ INQUIRY /
產品圖片
產品名稱
刪除
ACM 150 FT-IR 氣體監控系統
Messages Form
留言諮詢
姓名
*
信箱
*
主題
電話
*
內容
驗證碼
*
SEND
